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Epson NS8080SH IC Test Handler
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Epson NS8080SH IC Test Handler
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까다로운 요구 사항에 대해 더 높은 성능과 생산성을 제공하도록 설계
상온 및 고온의 생산 환경에서도 스마트 폰, 태블릿 PC 및 자동차 칩 테스트를 지원하는 높은 생산성
-최대 8Site 테스팅 능력
-테스팅 사이즈 184mm x 149mm
-콘텍트 포스 120Kgf
-최대 생산량 13,500 pcs/h (상온) & 8,200 pcs/h (고온)까지 대응
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Epson NS8080SH IC Test Handler
개요
사양
개요
빠른 처리 속도
-시간당 13,500개의 칩을 전송, 테스트 분류 가능
고온 지원
-155°C의 높은 온도에서도 칩 테스트가 가능.
-히트 프레스를 사용해서 고온에서도 쉽게 잼 현상을 해결
와이드 소켓 피치 지원
-와이드 소켓 피치를 지원하는 레이 아웃으로 고주파(RF) 칩과 같은 다량의 칩의 테스트 가능
사양
Temperature Accuracy:
Temperature Accuracy:
50 - 90°C ±2°C
90 - 155°C ±3°C
Heating Method:
Heating Method:
Heating Plate
Testing Area:
Testing Area:
184 x 149 mm
Tray:
Tray:
JEDEC (135.9 x 315.0 mm)
Devices Handled:
Devices Handled:
QFP, TSOP, CSP, WLCSP, BGA, QFN, PLCC, LGA, PGA
Standard Socket Pitch (mm):
Standard Socket Pitch (mm):
X: 40 Y: 60
Maximum Throughput (units per hour):
High Temperature:
8,200 units
Ambient Temperature:
13,500 units
Handler Dimensions (D x W x H):
Handler Dimensions (D X W X H):
1,500 x 1,860 x 2,000 mm *3
Test Mode:
Test Mode:
8-site (4 x 2)
Square 4-site (2 x 2)
In-Line 4-site (4 x 1)
2-site
Single
Index Time:
Index Time *2 (Common In Ambient And High Temperature Modes):
0.4 sec (up to 120 kgf)*2
Weight:
Weight:
Approx. 1,090kg
Binning:
Binning:
Max. 6 bins (Auto 3, Manual 3)
Max. Contact Force:
Max. Contact Force:
120 kgf
Power Requirements:
Rated Voltage/Frequency/Current:
Single Phase 200 - 240 V AC, 50/60 Hz, 6 kVA
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