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Epson NS8080SH IC Test Handler

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Epson NS8080SH IC Test Handler
Epson NS8080SH IC Test Handler

까다로운 요구 사항에 대해 더 높은 성능과 생산성을 제공하도록 설계

상온 및 고온의 생산 환경에서도 스마트 폰, 태블릿 PC 및 자동차 칩 테스트를 지원하는 높은 생산성

    • -최대 8Site 테스팅 능력
       
      -테스팅 사이즈 184mm x 149mm
       
      -콘텍트 포스 120Kgf 
       
      -최대 생산량 13,500 pcs/h (상온) & 8,200 pcs/h (고온)까지 대응
       
       
빠른 처리 속도
-시간당 13,500개의 칩을 전송, 테스트 분류 가능
 
고온 지원
-155°C의 높은 온도에서도 칩 테스트가 가능.
-히트 프레스를 사용해서 고온에서도 쉽게 잼 현상을 해결
 
와이드 소켓 피치 지원
-와이드 소켓 피치를 지원하는 레이 아웃으로 고주파(RF) 칩과 같은 다량의 칩의 테스트 가능

Temperature Accuracy:

Temperature Accuracy: 50 - 90°C ±2°C
90 - 155°C ±3°C

Heating Method:

Heating Method: Heating Plate

Testing Area:

Testing Area: 184 x 149 mm

Tray:

Tray: JEDEC (135.9 x 315.0 mm)

Devices Handled:

Devices Handled: QFP, TSOP, CSP, WLCSP, BGA, QFN, PLCC, LGA, PGA

Standard Socket Pitch (mm):

Standard Socket Pitch (mm): X: 40 Y: 60

Maximum Throughput (units per hour):

High Temperature: 8,200 unitsAmbient Temperature: 13,500 units

Handler Dimensions (D x W x H):

Handler Dimensions (D X W X H): 1,500 x 1,860 x 2,000 mm *3

Test Mode:

Test Mode: 8-site (4 x 2)
Square 4-site (2 x 2)
In-Line 4-site (4 x 1)
2-site
Single

Index Time:

Index Time *2 (Common In Ambient And High Temperature Modes): 0.4 sec (up to 120 kgf)*2

Weight:

Weight: Approx. 1,090kg

Binning:

Binning: Max. 6 bins (Auto 3, Manual 3)

Max. Contact Force:

Max. Contact Force: 120 kgf

Power Requirements:

Rated Voltage/Frequency/Current: Single Phase 200 - 240 V AC, 50/60 Hz, 6 kVA
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