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Epson NS8080MS IC Test Handler
시간당 최대 13,500개 칩을 처리하는 고속성
핀수가 많은 칩의 고속 테스트에 충분한 접촉압력
155℃의 고온지원
넓은 소켓 피치를 지원하여 고주파(RF)칩 테스트 가능
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Epson NS8080SH IC Test Handler
시간당 최대 13,500개 칩을 처리하는 고속성
핀수가 많은 칩의 고속 테스트에 충분한 접촉압력
155℃의 고온지원
넓은 소켓 피치를 지원하여 고주파(RF)칩 테스트 가능
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Epson NX1032XS IC Test Handler
시간당 최대 20,000개 칩을 처리하는 고속성
32bit 동시 테스트 가능
155℃의 고온지원
스마트 모션 제어 로봇 기술 적용